电子能量损失光谱术（EELS）是研究表面科学的重要工具。在过去的30年中，EELS已成为透射电子显微镜（TEM）的一种标准的分析技术，用于测量材料表面原子级的化学性能、结构信息和物理性能。本书的前两版已成为EELS的标准参考书，讲述了EELS的各种仪器，以及相关的物理学内容和分析程序。近几年，透镜像差校正器及电子束单色器已商品化，它提高了EELS的空间分辨率，这方面是新版的主要新增内容。此外，新版还介绍了在电子-散射理论、光谱及图像处理方面的新进展，以及纳米技术的应用等。附录中新增了非弹性平均自由程的列表，以及用于计算EELS数据的20多个MATLAB的程序。
第3版保留了老版的结构，但是各章都作了修改。本书共5章：1.EELS引言：提升了老版中该章的内容；2. 能量-损失仪器：压缩了有关串行记录方面的讨论，增加了单色器和电子检测器的信息；3. 电子散射物理学：增加了各向异性能量损失材料方面的内容，这些材料的能量损失是由于弹性散射、延迟效应、切伦科夫效应（Cerenkov）以及中心激发引起的；4. 能量-损失数据的定量分析：增加了贝斯去卷积（Bayes）、多变量统计分析以及ELNES模拟的内容；5. EELS在TEM中的应用：讨论了分析的空间分辨率极限。书的末尾有六个附录，以及主题索引。
本书著者埃格登博士是加拿大埃尔伯塔大学（University of Alberta）物理系教授。他是电子显微镜领域的著名专家，曾发表过大量的论著。他的研究兴趣包括分析电子显微镜（TEM， EDX， EELS）、光电子显微镜（PEEM）、薄膜及纳米结构材料（电子束平印术）以及辐射效应等。
本书适合于大学物理系或化学系的本科生和研究生阅读，也是电子显微镜专业工作者的有益参考书。
刘克玲，退休研究员
（中国科学院过程工程研究所）
